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關于芯片測試裝置相關測試說明

 更新時間:2019-04-04 點擊量:920

  芯片測試裝置在運行前需要了解其相關測試知識,那么,關于無錫冠亞芯片測試裝置的相關測試大家了解多少呢?

芯片測試裝置

  芯片測試裝置電位器的好壞判別,先測電位器的標稱阻值。用萬用表的歐姆擋測“1”、“3”兩端(設“2”端為活動觸點),其讀數(shù)應為電位器的標稱值,如萬用表的指針不動、阻值不動或阻值相差很多,則表明該電位器已損壞。再檢查電位器的活動臂與電阻片的接觸是否良好。用萬用表的歐姆擋測“1”、“2”或“2”、“3”兩端,將電位器的轉軸按逆時針方向旋至接近“關”的位置,此時電阻應越小越好,再徐徐順時鐘旋轉軸柄,電阻應逐漸增大,旋至上端位置時,阻值應接近電位器的標稱值。

  測量大容量電容的漏電電阻,用500型萬用表置于R×10R×100擋,待指針指向較大值時,再立即改用R×1k擋測量,指針會在較短時間內(nèi)穩(wěn)定,從而讀出漏電電阻阻值。

  判別紅外接收頭引腳,萬用表置R×1k擋,先假設接收頭的某腳為接地端,將其與黑表筆相接,用紅表筆分別測量另兩腳電阻,對比兩次所測阻值(一般在47k Q范圍),電阻較小的一次其紅表筆所接為+5V電源引腳,另一阻值較大的則為信號引腳。反之,若用紅表筆接已知地腳,黑表筆分別測已知電源腳及信號腳,則阻值都在15kΩ以上,阻值小的引腳為+5V端,阻值偏大的引腳為信號端。如果測量結果符合上述阻值則可判斷該接收頭完好。

  判斷無符號電解電容性,先將電容短路放電,再將兩引線做好A、B標記,萬用表置R×100R×1k擋,黑表筆接A引線,紅表筆接B引線,待指針靜止不動后讀數(shù),測完后短路放電;再將黑表筆接B引線,紅表筆接A引線,比較兩次讀數(shù),阻值較大的一次黑表筆所接為正,紅表筆所接為負。

  芯片測試裝置在了解其相關測試之后,在運行中多多注意其保養(yǎng)工作,更好的運行芯片測試裝置。(本文來源網(wǎng)絡,如有侵權請聯(lián)系無錫冠亞刪除,謝謝。)